5 Artículos

Electron Device Model Parameter Identification Through Large-Signal-Predictive Small-Signal-Based Error Functions

Solicitud

usuarios registrados

Raffo, A.; Santarelli, A.; Traverso, P.A.; Vannini, G.; Filicori, F. Pág. 1997 - 2005

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 55 Num: 10 Par: 0 Año: 2007

An Empirical Bipolar Device Nonlinear Noise Modeling Approach for Large-Signal Microwave Circuit Analysis

Solicitud

usuarios registrados

Traverso, P. A.; Florian, C.; Borgarino, M.; Filicori, F. Pág. 4341 - 4352

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 54 Num: 12 Par: 2 Año: 2006

A Nonquasi-Static Empirical Model of Electron Devices

Solicitud

usuarios registrados

Santarelli, A.; Di Giacomo, V.; Raffo, A.; Traverso, P. A.; Vannini, G.; Filicori, F. Pág. 4021 - 4031

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 54 Num: 12 Par: 1 Año: 2006

The Vector-Gradient Hough Transform

Solicitud

usuarios registrados

Cucchiara, R; Filicori, F Pág. 746 - 750

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 20 Num: 7 Par: 0 Año: 1998

Physics-Based Large-Signal Sensitivity Analysis of Microwave Circuits Using Technological Parametric Sensitivity from Multidimensional Semiconductor Device Models

Solicitud

usuarios registrados

Bonani, F; Guerrieri, S Donati; Filicori, F; Ghione, G; Pirola, M Pág. 846 - 855

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 45 Num: 5 (2) Par: 0 Año: 1997

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »