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Detection and volume estimation of semiconductor quantum dots from atomic force microscope images

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Oh, S. Hyon, C. Sull, S. Hwang, S. Park, Y. Pág. 4687 - 4695

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 11 Par: 0 Año: 2003

An automated glitch-detection/restoration method of atomic force microscope images

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Hyon, C. Oh, S. Kim, H. Sull, S. Hwang, S. Ahn, D. Park, Y. Kim, E. Pág. 3245 - 3250

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 9 Par: 0 Año: 2002

SHORT PAPERS - Analytical Time Optimal Control Solution for a Two-Link Planar Acrobot with Initial Angular Momentum

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Mita, T; Hyon, S-H; Nam, T-K Pág. 361 - 366

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON ROBOTICS AND AUTOMATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 17 Num: 3 Par: 0 Año: 2001

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