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Accurate determination of thermal resistance of FETs

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Darwish, A.M.; Bayba, A.J.; Hung, H.A. Pág. 306 - 313

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 53 Num: 1 Par: 0 Año: 2005

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