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High sensitivity photoconductivity based measurement setup for the determination of effective recombination lifetime in silicon wafers

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E. Cornagliotti, X. Kang, G. Beaucarne, J. John, J. Poortmans, and R. Mertens

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 5 Par: 0 Año: 2009

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