|
|
|
|
|
Johannes H. Uhl, Stefan Leyk, Yao-Yi Chiang, Weiwei Duan and Craig A. Knoblock
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
J. C. Han, X. D. Yang, T. Zhang, H. Li, W. L. Li, Z. Y. Zhang, and J. H. Yao
Pág. 323 - 329
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
X.-J. Liu, H. Fukuzawa, G. Prümper, M. Okunishi, K. Shimada, K. Ueda, K. Motomura, N. Saito, H. Iwayama, K. Nagaya, M. Yao, A. Rudenko, J. Ullrich, L. Foucar, A. Czasch et al.
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
K Wang, C Zhao, FT Zhang, XJ Wang, H Chen, YF Yao
Pág. 743
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Z. L. He, H. Yao, D. V. Calvert, et al.
Pág. 157 - 166
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Cao, Y. P. Hu, N. Lu, J. Fukunaga, H. Yao, Z. H.
Pág. 455 - 464
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Thorp, K. R. Tian, L. Yao, H. Tang, L.
Pág. 291 - 300
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Yao, H. Ema, K. Fukada, H. Takahashi, K. Hatta, I.
Pág. 4164 - 4168
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Yao, Y. Yoneyama, T. Hayashi, H.
Pág. 279 - 286
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Chen, J. C. Yip, L. Elson, J. Wang, H. Maniezzo, D. Hudson, R. E. Yao, K. Estrin, D.
Pág. 1154 - 1162
|
|
|
|
|
|