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Trapping Effects in GaN and SiC Microwave FETs

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Binari, S. C. Klein, P. B. Kazior, T. E. Pág. 1048 - 1058

Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 90 Num: 6 Par: 0 Año: 2002

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