4   Artículos

 
usuarios registrados
Mease, David; Bingham, Derek     Pág. 467 - 477
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
usuarios registrados
Mease, D. Nair, V. N. Sudjianto, A.     Pág. 165 - 175
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

« Anterior     Página: 1 de 1     Siguiente »