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Digital Circuit Design Challenges and Opportunities in the Era of Nanoscale CMOS

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Calhoun, B.H.; Yu Cao; Xin Li; Ken Mai; Pileggi, L.T.; Rutenbar, R.A.; Shepard, K.L. Pág. 343 - 365

Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 96 Num: 2 Par: 0 Año: 2008

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