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Highly efficient time-of-flight spectrometer for studying low-energy secondary emission from dielectrics: Secondary-electron emission from LiF film

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Samarin, S. N. Artamonov, O. M. Waterhouse, D. K. Kirschner, J. Morozov, A. Williams, J. F. Pág. 1274 - 1277

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 3 Par: 1 Año: 2003

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