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Improvement of trace element analysis system using RIKEN electron cyclotron resonance ion source and linear accelerator

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M. Kidera, T. Nakagawa, K. Takahashi, S. Enomoto, K. Igarashi, M. Fujimaki, E. Ikezawa, O. Kamigaito, M. Kase, A. Goto, and Y. Yano

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 77 Num: 3 Par: 0 Año: 2006

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