2   Artículos

 
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Calhoun, B.H.; Yu Cao; Xin Li; Ken Mai; Pileggi, L.T.; Rutenbar, R.A.; Shepard, K.L.     Pág. 343 - 365
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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Gielen, G G E; Rutenbar, R A     Pág. 1825 - 1852
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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