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Precise stress measurements with white synchrotron x rays

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Donald J. Weidner, Michael T. Vaughan, Liping Wang, Hongbo Long, Li Li, Nathaniel A. Dixon, and William B. Durham

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 1 Par: 0 Año: 2010

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