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Demonstration of low-temperature atomic force microscope with atomic resolution using piezoresistive cantilevers
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Ichiro Shiraki, Yutaka Miyatake, Toshihiko Nagamura, and Kazushi Miki
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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Impreso
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Vol: 77 Num: 2 Par: 0 Año: 2006
Development of laser assisted nanometric resolution scanning tunneling microscopy time-of-flight mass analyzer system
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usuarios registrados
Ding, Y. Micheletto, R. Hanada, H. Nagamura, T. Okazaki, S.
Pág. 3227 - 3231
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 73 Num: 9 Par: 0 Año: 2002
Piezoelectrically driven rotator for use in high magnetic fields at low temperatures
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usuarios registrados
Ohmichi, E.; Nagai, S.; Maeno, Y.; Ishiguro, T.; Mizuno, H.; Nagamura, T.
Pág. 1914 - 1917
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 72 Num: 3 Par: 0 Año: 2001
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