3 Artículos

Surface sensitivity in scanning transmission x-ray microspectroscopy using secondary electron detection

Solicitud

usuarios registrados

C. Hub, S. Wenzel, J. Raabe, H. Ade, and R. H. Fink

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 3 Par: 0 Año: 2010

An in situ cell to study phase transitions in individual aerosol particles on a substrate using scanning transmission x-ray microspectroscopy

Solicitud

usuarios registrados

T. Huthwelker, V. Zelenay, M. Birrer, A. Krepelova, J. Raabe, G. Tzvetkov, M. G. C. Vernooij, and M. Ammann

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 11 Par: 0 Año: 2010

PolLux: A new facility for soft x-ray spectromicroscopy at the Swiss Light Source

Solicitud

usuarios registrados

J. Raabe, G. Tzvetkov, U. Flechsig, M. Böge, A. Jaggi, B. Sarafimov, M. G. C. Vernooij, T. Huthwelker, H. Ade, D. Kilcoyne, T. Tyliszczak, R. H. Fink, and C. Quitmann

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 11 Par: 0 Año: 2008

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »