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A laser ablation electron impact ionization time-of-flight mass spectrometer for analysis of condensed materials
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Drewnick, F.; Wieser, P. H.
Pág. 3003 - 3006
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 73 Num: 8 Par: 0 Año: 2002
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