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Calibration of lateral force measurements in atomic force microscopy with a piezoresistive force sensor

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Hui Xie, Julien Vitard, Sinan Haliyo, Stéphane Régnier, and Mehdi Boukallel

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 3 Par: 0 Año: 2008

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