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Millimeter-wave scanning near-field anisotropy microscopy

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Tatsuo Nozokido, Ryohei Iibuchi, Jongsuck Bae, Koji Mizuno, and Hiroyuki Kudo Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 3 Par: 0 Año: 2005

Scanning Near-Field Millimeter-Wave Microscopy Using a Metal Slit as a Scanning Probe

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Nozokido, T; Bae, J; Mizuno, K Pág. 491 - 499

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 49 Num: 3 Par: 0 Año: 2001

Reduced Low-Frequency Noise Schottky Barrier Diodes for Terahertz Applications

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Suzuki, T; Yasui, T; Fujishima, H; Nozokido, T; Araki, M; Boric-Lubecke, O; Pág. 1649 - 1655

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 9 (1) Par: 0 Año: 1999

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