9   Artículos

 
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Marchal, P.; Bougard, B.; Katti, G.; Stucchi, M.; Dehaene, W.; Papanikolaou, A.; Verkest, D.; Swinnen, B.; Beyne, E.     Pág. 96 - 107
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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Carchon, G. J. De Raedt, W. Beyne, E.     Pág. 1244 - 1251

 
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Pieters, P. Vaesen, K. Brebels, S. Mahmoud, S. F. De Raedt, W. Beyne, E. Mertens, R. P.     Pág. 589 - 599

 
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Soliman, E A; Brebels, S; Vandenbosch, G A E; Beyne, E     Pág. 1065 - 1067

 
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Soliman, E A; Pieters, P; Beyne, E; Vandenbosch, G A E     Pág. 1782 - 1787

 
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Pieters, P; Brebels, S; Beyne, E; Mertens, R P     Pág. 1863 - 1872

 
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Soliman, E A; Pieters, P; Beyne, E; Vandenbosch, G A E     Pág. 2426 - 2430

 
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Mahmoud, S F; Beyne, E     Pág. 918 - 923

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