7   Artículos

 
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Hugh A. Chipman, R. Jock MacKay, Stefan H. Steiner     Pág. 280 - 282
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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Ryan P. Browne, R. Jock MacKay, Stefan H. Steiner     Pág. 239 - 249
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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RYAN P. BROWNE, R. JOCK MACKAY, and STEFAN H. STEINER    
Revista: JOURNAL OF QUALITY TECHNOLOGY    Formato: Impreso

 
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McCool, John I.     Pág. 312 - 312
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

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