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María Jesús Bayarri García, James O. Berger, Eliza S. Calder, Keith Dalbey, Simon Lunagomez, Abani K. Patra, E. Bruce Pitman, Elaine T. Spiller, Robert L. Wolpert     Pág. 402 - 413
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

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