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Chopped sample heating for quantitative profile analysis of low energy electron diffraction spots at high temperatures

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P. Kury, P. Zahl, M. Horn-von Hoegen, C. Voges, H. Frischat, H.-L. Günter, H. Pfnür, and M. Henzler Pág. 4911 - 4915

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 11 Par: 0 Año: 2004

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