Revistas
Artículos
Publicaciones
Documentos
AVANZADA
2
Artículos
Buscar Revistas
SPECIAL ISSUE ON INTERCONNECTIONS -- ADDRESSING THE NEXT CHALLENGE OF IC TECHNOLOGY (PART II: DESIGN, CHARACTERIZATION, AND MODELING) - COMMENTS - Correction to "Semiconductor Characterization and Analytical Technology"
Solicitud
usuarios registrados
Schutt-Ainé, J E; Kang, S-M; Shaffner, T J
Pág. 789 - 789
Revista:
PROCEEDINGS OF THE IEEE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 89 Num: 5 Par: 0 Año: 2001
Invited Paper - Semiconductor Characterization and Analytical Technology
Solicitud
usuarios registrados
Shaffner, T
Pág. 1416 - 1437
Revista:
PROCEEDINGS OF THE IEEE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 88 Num: 9 Par: 0 Año: 2000
« Anterior
Página: 1 de 1
Siguiente »