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Uncertainty of the X-ray Diffraction (XRD) sin2 ? Technique in Measuring Residual Stresses of Physical Vapor Deposition (PVD) Hard Coatings

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Quanshun Luo and Shicai Yang

Revista: Coatings Formato: Electrónico

Tabla de contenido: Vol: 7 Num: 8 Par: August Año: 2017

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