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Reflective fringe pattern technique for non-destructive subsurface flaw detection

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F W Y Chan Pág. 579

Revista: INSIGHT Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 10 Par: 0 Año: 2008

Architectures and Algorithms - Analysis for a Class of Winner-Take-All Model

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Sum, J P F; Leung, C-S; Tam, P K S; Young, G H; Kan, W K; Chan, L Pág. 64 - 71

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON NEURAL NETWORK Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 10 Num: 1 Par: 0 Año: 1999

Structural Modeling and Analysis of Modular Falsework Systems

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Peng, J L; Pan, A D E; Chen, W F; Yen, T; Chan, S L Pág. 1245 - 1251

Revista: JOURNAL OF STRUCTURAL ENGINEERING (NEW YORK, NY) Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 123 Num: 9 Par: 0 Año: 1997

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