3   Artículos

 
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Mark W. Carter, Daniel E. Shoup, John M. Dettmers, and David H. Wahl     Pág. 353

 
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O. V. Gotchev, J. P. Knauer, P. Y. Chang, N. W. Jang, M. J. Shoup, III, D. D. Meyerhofer, and R. Betti    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Asokan, N; Shoup, V; Waidner, M     Pág. 593 - 610
Revista: IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS    Formato: Impreso

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