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Identification of an AFLP Fragment Linked to Rust Resistance in Asparagus Bean and Its Conversion to a SCAR Marker

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Guojing Li, Yonghua Liu, Jeffrey D. Ehlers, Zhujun Zhu, Xiaohua Wu, Baogeng Wang, and Zhongfu Lu Pág. 1153 - 1156

Revista: HORTSCIENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 42 Num: 5 Par: 0 Año: 2007

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