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High sensitivity imaging Thomson scattering for low temperature plasma
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H. J. van der Meiden, R. S. Al, C. J. Barth, A. J. H. Donné, R. Engeln, W. J. Goedheer, B. de Groot, A. W. Kleyn, W. R. Koppers, N. J. Lopes Cardozo, M. J. van de Pol, P. R. Prins, D. C. Schram, A. E. Shumack, P. H. M. Smeets et al.
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 79 Num: 1 Par: 0 Año: 2008
Calibration procedure and data processing for a TV Thomson scattering system
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Barth, C. J.; Chu, C. C.; Beurskens, M. N. A.; Meiden, H. J. v. d.
Pág. 3514 - 3527
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 72 Num: 9 Par: 0 Año: 2001
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