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Development of a four-element conical electron lens dedicated to high resolution Auger electron-ion(s) coincidence experiments

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Le Guen, K. Ceolin, D. Guillemin, R. Miron, C. Leclercq, N. Bougeard, M. Simon, M. Morin, P. Mocellin, A. Burmeister, F. Pág. 3885 - 3894

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 11 Par: 0 Año: 2002

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