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Error Detection by Duplicated Instructions in Super-Scalar Processors

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Oh, N. Shirvani, P. P. McCluskey, E. J. Pág. 63 - 75

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 1 Par: 0 Año: 2002

Control-Flow Checking by Software Signatures

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Oh, N. Shirvani, P. P. McCluskey, E. J. Pág. 111 - 122

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 1 Par: 0 Año: 2002

SPECIAL SECTION -- FAULT-TOLERANT VLSI SYSTEMS - PAPERS - Fault-Tolerant VLSI Systems - Software-Implemented EDAC Protection Against SEUs

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Shirvani, P P; Saxena, N; McCluskey, E J Pág. 273 - 284

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 49 Num: 3 Par: 0 Año: 2000

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