AVANZADA

1 Artículos

Open-Ended Coaxial Probe for High-Temperature and Broad-Band Dielectric Measurements

Solicitud

usuarios registrados

Gershon, D L; Calame, J P; Carmel, Y; Antonsen, T M; Hutcheon, R M Pág. 1640 - 1648

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 9 (1) Par: 0 Año: 1999

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »