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Determination of influential factors and diagnostics using multivariate statistical relationships between variables and faults

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Hyun-Woo Cho, Kwang-Jae Kim, Myong K. Jeong Pág. 30 - 40

Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 35 Num: 1-2 Par: 0 Año: 2008

Enhanced prediction of misalignment conditions from spectral data using feature selection and filtering

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Hyun-Woo Cho, Myong K. Jeong Pág. 451 - 458

Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 35 Num: 1-2 Par: 0 Año: 2008

Genetic algorithm-based feature selection in high-resolution NMR spectra

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Hyun-Woo Cho, Seoung Bum Kim, Myong K. Jeong, Youngja Park, Thomas R. Ziegler, Dean P. Jones Pág. 967 - 975

Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 35 Num: 3 Par: 0 Año: 2008

Wavelet-Based Data Reduction Techniques for Process Fault Detection

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Jeong, Myong K.; Lu, Jye-Chyi; Huo, Xiaoming; Vidakovic, Brani; Di Chen, Pág. 26 - 40

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 1 Par: 0 Año: 2006

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