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Packaging, Integration, and Test - Simultaneous Measurements of Electric and Thermal Fields Utilizing an Electrooptic Semiconductor Probe

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Reano, R M; Yang, K; Katehi, L P B; Whitaker, J F Pág. 2523 - 2531

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 49 Num: 12 Par: 0 Año: 2001

Electrooptic and Lightwave Technologies - Absolute Potential Measurements Inside Microwave Digital IC's Using a Micromachined Photoconductive Sampling Probe

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David, G; Yun, T-Y; Crites, M H; Whitaker, J F; Weatherford, T R; Jobe, K; Pág. 2330 - 2337

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 12 (2) Par: 0 Año: 1998

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