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Statistical Edge Detection: Learning and Evaluating Edge Cues

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Konishi, S. Yuille, A. L. Coughlan, J. M. Zhu, S. C. Pág. 57 - 74

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 25 Num: 1 Par: 0 Año: 2003

The Generic Viewpoint Assumption and Planar Bias

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Yuille, A. L. Coughlan, J. M. Konishi, S. Pág. 775 - 778

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 25 Num: 6 Par: 0 Año: 2003

Bayesian Learning - Fundamental Limits of Bayesian Inference: Order Parameters and Phase Transitions for Road Tracking

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Yuille, A L; Coughlan, J M Pág. 160 - 173

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 22 Num: 2 Par: 0 Año: 2000

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