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Defect classification in two-layer complex structures based on spectrum analysis of pulsed eddy current

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Xiangchao Hu, Yunze He and Feilu Luo Pág. 146

Revista: INSIGHT Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 53 Num: 3 Par: 0 Año: 2011

Defect identification and evaluation based on three-dimensional magnetic field measurement of pulsed eddy current

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Yunze He, Feilu Luo, Xiangchao Hu, Bo Liu and Junzhe Gao Pág. 310

Revista: INSIGHT Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 6 Par: 0 Año: 2009

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