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K. Indudhar Reddy, A. V. Ramanjaneyulu, M. V. Nagesh Kumar, C. V. Sameer Kumar, M. Venkata Ramana     Pág. Page:61 - 66Abstract
Revista: Current Journal of Applied Science and Technology    Formato: Electrónico

 
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Saptarshi Sasmal, K. Ramanjaneyulu     Pág. 1430 - 1443
Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS    Formato: Impreso

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