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In situ and real-time characterization of metal-organic chemical vapor deposition growth by high resolution x-ray diffraction

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Kharchenko, K. Lischka, K. Schmidegg, H. Sitter, J. Bethke, and J. Woitok Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 3 Par: 0 Año: 2005

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