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High resolution hard x-ray microscope on a second generation synchrotron source

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Yangchao Tian, Wenjie Li, Jie Chen, Longhua Liu, Gang Liu, Andrei Tkachuk, Jinping Tian, Ying Xiong, Jeff Gelb, George Hsu, and Wenbing Yun

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 10 Par: 0 Año: 2008

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