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Robust Design Optimization With Quadratic Loss Derived From Gaussian Process Models

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Matthias H. Y. Tan & C.F. Jeff Wu Pág. 51 - 63

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 54 Num: 1 Par: 0 Año: 2012

Robust Design of Measurement Systems

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Tirthankar Dasgupta, Arden Miller, C.F. Jeff Wu Pág. 80 - 93

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 1 Par: 0 Año: 2010

Bayesian Hierarchical Modeling for Integrating Low-Accuracy and High-Accuracy Experiments

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Qian, Peter Z.G.; Wu, C. F. Jeff Pág. 192 - 204

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 2 Par: 0 Año: 2008

The Future of Industrial Statistics: A Panel Discussion

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Steinberg, David M.; Bisgaard, Søren; Doganaksoy, Necip; Fisher, Nicholas; Gunter, Bert; Hahn, Gerald; Keller-McNulty, Sallie; Kettenring, Jon; Meeker, William Q.; Montgomery, Douglas C.; Wu, C. F. Jeff Pág. 103 - 127

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 2 Par: 0 Año: 2008

SELC: Sequential Elimination of Level Combinations by Means of Modified Genetic Algorithms

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Mandal, Abhyuday; Jeff Wu, C.F.; Johnson, Kjell Pág. 273 - 283

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2 Par: 0 Año: 2006

Pitting Corrosion: Comparison of Treatments With Extreme-Value¿Distributed Responses

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Fougères, A.L.; Holm, S.; Rootzén, H. Mandal, Abhyuday; Jeff Wu, C.F.; Johnson, Kjell Pág. 262 - 272

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2 Par: 0 Año: 2006

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