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Deep level photothermal spectroscopy for characterizing Ni impurities in Si by a temperature dependent piezoelectric photothermal signal

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Sato, S. Memon, A. Fukuyama, A. Tanaka, S. Ikari, T. Pág. 340 - 342

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 1 Par: 2 Año: 2003

Investigation of the annealing effect on the nonradiative carrier recombination in AlGaAs/GaAs utilizing the piezoelectric photothermal technique

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Fukuyama, A. Ohno, R. Akashi, Y. Ikari, T. Pág. 550 - 552

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 1 Par: 2 Año: 2003

Photothermal microscopy of silicon epitaxial layer on silicon substrate with depletion region at the interface

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Ikari, T. Roger, J. P. Fournier, D. Pág. 553 - 555

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 1 Par: 2 Año: 2003

Investigation of nonradiative transition processes in p- and n-type silicon single crystals by piezoelectric photothermal spectroscopy

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Memon, A. A. Fukuyama, A. Sato, S. Ikari, T. Pág. 592 - 594

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 1 Par: 2 Año: 2003

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