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Dedicated Max-Planck beamline for the in situ investigation of interfaces and thin films

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A. Stierle, A. Steinhäuser, A. Rühm, F. U. Renner, R. Weigel, N. Kasper, and H. Dosch Pág. 5302 - 5307

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 12 Par: 0 Año: 2004

Bahnhof und Passage

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Dosch, L. Pág. 4 - 9

Revista: WERK, BAUEN + WOHNEN Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 0 Num: 12 Par: 0 Año: 2003

A portable ultrahigh vacuum organic molecular beam deposition system for in situ x-ray diffraction measurements

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Ritley, K. A.; Krause, B.; Schreiber, F.; Dosch, H. Pág. 1453 - 1457

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 72 Num: 2 Par: 0 Año: 2001

Development and evaluation of a surface acoustic intensity probe

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Driesch, Patricia L.; Iwata, Hisao; Koopmann, Gary H.; Dosch, Jeff Pág. 3947 - 3952

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 71 Num: 10 Par: 0 Año: 2000

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