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Characterization of sheet electron beams from planar crossed-field secondary emission diodes

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Saveliev, Y. M. Sibbett, W. Parkes, D. M. Pág. 3962 - 3967

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 9 Par: 0 Año: 2003

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