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Near-Field Microwave In-Process Thickness Monitoring of Coatings Undergoing Curing

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Nanni, E.; Abou-Khousa, M.; Kharkovsky, S.; Zoughi, R.; Austin, R. Pág. 865 - 870

Revista: MATERIALS EVALUATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 66 Num: 8 Par: 0 Año: 2008

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