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Probe pressure dependence of nanoscale capacitance-voltage characteristic for AlGaN/GaN heterostructures
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Jihua Zhang, Huizhong Zeng, Min Zhang, Wei Liu, Zuofan Zhou, Hongwei Chen, Chuanren Yang, Wanli Zhang, and Yanrong Li
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 81 Num: 10 Par: 0 Año: 2010
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