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V L Christensen, D T Ort, K E Nestor, S G Velleman, G B Havenstein
Pág. 476 - 487
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X Li, D C McFarland, S G Velleman
Pág. 326 - 332
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C Liu, D C McFarland, K E Nestor, S G Velleman
Pág. 422 - 428
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K E Nestor, J W Anderson, S G Velleman
Pág. 1341 - 1346
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S G Velleman, K E Nestor
Pág. 1347 - 1349
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C Liu, D C McFarland, S G Velleman
Pág. 376 - 384
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