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A compact x-ray beam intensity monitor using gas amplified sample current measurement

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Hayakawa, Shinjiro; Kobayashi, Kazuo; Gohshi, Yohichi Pág. 20 - 22

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 71 Num: 1 Par: 0 Año: 2000

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