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J. L. DeCiantis, F. H. Séguin, J. A. Frenje, V. Berube, M. J. Canavan, C. D. Chen, S. Kurebayashi, C. K. Li, J. R. Rygg, B. E. Schwartz, R. D. Petrasso, J. A. Delettrez, S. P. Regan, V. A. Smalyuk, J. P. Knauer et al.    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Reindl, L. Ruppel, C. C. W. Berek, S. Knauer, U. Vossiek, M. Heide, P. Oreans, L.     Pág. 787 - 794

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