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Transmission electron microscopy specimen holder for simultaneous in situ heating and electrical resistance measurements
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Verheijen, M. A. Donkers, J. J. T. M. Thomassen, J. F. P. van den Broek, J. J. van der Rijt, R. A. F. Dona, M. J. J. Smit, C. M.
Pág. 426 - 429
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 75 Num: 2 Par: 0 Año: 2004
Modeling of industrial crystallizers for control and design purposes
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usuarios registrados
Kramer, H.J.M.; Dijkstra, J.W.; Verheijen, P.J.T.; Van Rosmalen, G.M.
Pág. 185 - 191
Revista:
POWDER TECHNOLOGY
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 108 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2000
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