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Hardware-assisted feature analysis and visualization of procedurally encoded multifield volumetric data

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Weiler, M.; Botchen, R.; Stegmaier, S.; Ertl, T.; Huang, J.; Jang, Y.; Ebert, D.S.; Gaither, K.P Pág. 72 - 81

Revista: IEEE COMPUTER GRAPHICS AND APPLICATIONS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 25 Num: 5 Par: 0 Año: 2005

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