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Coupling metrics for ontology-based system
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Orme, A.M.; Tao, H.; Etzkorn, L.H.
Pág. 102 - 108
Revista:
IEEE SOFTWARE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 23 Num: 2 Par: 0 Año: 2006
A novel spectrometer for spin-polarized electron energy-loss spectroscopy
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usuarios registrados
Ibach, H. Bruchmann, D. Vollmer, R. Etzkorn, M. Kumar, P. S. A. Kirschner, J.
Pág. 4089 - 4095
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 74 Num: 9 Par: 0 Año: 2003
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