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Tapping mode microwave impedance microscopy

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K. Lai, W. Kundhikanjana, H. Peng, Y. Cui, M. A. Kelly, and Z. X. Shen

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 4 Par: 0 Año: 2009

Modeling and characterization of a cantilever-based near-field scanning microwave impedance microscope

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K. Lai, W. Kundhikanjana, M. Kelly, and Z. X. Shen

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 6 Par: 0 Año: 2008

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